納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析(NTA)技術的物理性能測試儀器,通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性,實現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)測量。該儀器利用激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器,捕捉納米顆粒在液體中的布朗運動軌跡。通過分析顆粒的擴散系數(shù),結合斯托克斯-愛因斯坦方程,計算其流體力學直徑,精度可達4nm。同時,支持熒光檢測功能,可識別熒光標記顆粒,實現(xiàn)多參數(shù)同步分析。
一、高精度光學系統(tǒng):實現(xiàn)單顆粒可視化
光學系統(tǒng)是NTA的核心,需滿足“清晰觀察納米級顆粒”并“避免多重散射干擾”的需求,特點如下:
光源:窄光束、低相干性
通常采用半導體激光器(如488 nm、640 nm),輸出光束經(jīng)聚焦后形成極細的圓柱形激光束(直徑約50-100μm),僅照亮樣品池中的薄層區(qū)域(減少背景干擾和多重散射)。
低相干性光源可降低顆粒散射光的干涉效應,使單個顆粒呈現(xiàn)為清晰的“亮點”,便于識別和追蹤。
成像物鏡:高數(shù)值孔徑(NA)
配備高倍顯微物鏡(如40×、60×),且數(shù)值孔徑(NA)較高(通常0.8-1.2),以增強對納米顆粒散射光的收集能力,確保小至10 nm的顆粒仍能被清晰成像。
物鏡與激光束同軸或呈特定角度(如90°散射角),避免直射光干擾,僅接收顆粒的側向散射光。
二、樣品池:適配微量樣品,減少顆粒沉降與團聚
樣品池設計需滿足“低體積需求”“減少顆粒運動干擾”和“便于清潔”的特點:
微量樣品容量
樣品池體積通常為10-200μL,適用于珍貴或低濃度樣品(如生物納米顆粒、外泌體),且可通過注射器或移液槍快速更換。
低擾動流場
池體多為石英或玻璃材質(zhì),內(nèi)壁光滑,減少顆粒吸附;部分設計包含攪拌裝置(如磁力攪拌子)或輕微流動系統(tǒng),避免顆粒因重力沉降導致的分布不均,但需保證擾動強度不影響顆粒的布朗運動(NTA的核心測量依據(jù))。
溫控功能(可選)
部分高d型號配備溫控模塊(如20-40℃),可維持樣品溫度穩(wěn)定,避免溫度變化導致的液體粘度改變(粘度影響顆粒布朗運動速度,進而影響尺寸計算)。
三、成像與追蹤系統(tǒng):捕捉顆粒動態(tài)軌跡
該系統(tǒng)負責將光學信號轉化為數(shù)字圖像,并實時追蹤單個顆粒的運動,特點如下:
高速相機:高幀率、低噪聲
采用電荷耦合器件(CCD)或互補金屬氧化物半導體(CMOS)相機,幀率通常為25-100幀/秒,可捕捉納米顆粒因布朗運動產(chǎn)生的快速位移(顆粒越小,運動越劇烈,需更高幀率)。
低噪聲傳感器確保在弱散射光下(小顆粒信號弱)仍能區(qū)分顆粒與背景噪聲。
同步控制模塊
激光、相機與數(shù)據(jù)采集單元同步工作,確保每幀圖像的時間間隔精確(如10 ms/幀),為后續(xù)計算顆粒擴散系數(shù)(進而推導尺寸)提供準確的時間基準。
四、數(shù)據(jù)處理單元:從軌跡到顆粒特性的量化
硬件上通常為連接相機的計算機,核心是專用NTA分析軟件,其功能體現(xiàn)結構與算法的結合:
顆粒識別與軌跡追蹤
軟件通過圖像分析算法(如閾值分割、邊緣檢測)識別單幀圖像中的顆粒亮點,再通過多幀匹配(如基于距離和運動連續(xù)性)追蹤同一顆粒在不同時間點的位置,生成運動軌跡。
統(tǒng)計分析與結果輸出
對數(shù)百至數(shù)千個顆粒的尺寸進行統(tǒng)計,生成粒徑分布直方圖、濃度(顆粒數(shù)/體積)等結果,并可通過軟件校準(如使用標準顆粒驗證尺寸準確性)。
五、整體結構的集成性:兼顧操作性與穩(wěn)定性
光學模塊、樣品池和成像系統(tǒng)通常集成在一個緊湊的主機內(nèi),減少外界振動和光線干擾;部分型號設計為開放式樣品臺,便于觀察和調(diào)整。
操作界面簡潔,支持自動化參數(shù)優(yōu)化(如曝光時間、增益),降低人為操作誤差,同時允許高級用戶手動調(diào)整參數(shù)以適應復雜樣品(如高濃度、多分散體系)。
