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在線粒度儀是一種用于實(shí)時(shí)測(cè)量物料或顆粒的粒度分布的儀器。它通過(guò)對(duì)物料流中的顆粒進(jìn)行測(cè)量和分析,提供粒度分布數(shù)據(jù),以幫助優(yōu)化生產(chǎn)過(guò)程和控制產(chǎn)品質(zhì)量。在線粒度儀廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域,包括但不限于:制藥行業(yè):用于監(jiān)測(cè)藥物粉末的粒度分布,確保藥物的穩(wěn)定性和生物利用度。礦物加工:如水泥、礦渣...
激光噴霧粒度儀是一種基于激光散射原理的高精度顆粒分析設(shè)備,專用于測(cè)量噴霧、氣霧劑、粉霧劑等微小顆粒的尺寸及其分布,測(cè)量范圍通常覆蓋0.1-30000μm,可滿足不同場(chǎng)景需求。其核心原理是:當(dāng)激光束照射到噴霧顆粒時(shí),顆粒對(duì)入射光產(chǎn)生散射作用,散射光強(qiáng)度及角度分布與顆粒粒徑直接相關(guān)——大顆粒散射光角度小、信號(hào)強(qiáng),小顆粒散射光角度大、信號(hào)弱。通過(guò)測(cè)量散射光的角度分布與強(qiáng)度,結(jié)合米氏散射理論或夫瑯禾費(fèi)衍射模型(適用于5μm顆粒),可反算出顆粒粒徑分布。激光噴霧粒度儀在使用前需要進(jìn)行一...
X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來(lái)精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過(guò)分析這些衍射圖樣,可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀的常見(jiàn)問(wèn)題及...
粒度儀數(shù)據(jù)反映顆粒的大小分布,而分形維數(shù)則是對(duì)這種分布背后“形態(tài)復(fù)雜性”的量化。通過(guò)計(jì)算分形維數(shù),能從傳統(tǒng)粒度分析中挖掘出更深層的結(jié)構(gòu)信息,為理解顆粒的形成機(jī)制、優(yōu)化制備工藝、預(yù)測(cè)性能提供重要依據(jù)。本文中將介紹利用MS3000粒度儀測(cè)試數(shù)據(jù)計(jì)算分形維數(shù)的操作步驟。什么是分形維數(shù)?分形(fractal)理論是為描述具有自相似性自然碎片或不規(guī)則結(jié)構(gòu)而提出的。例如土壤粒徑、顆粒表面積、顆粒體積和孔隙大小等具有自相似特征,應(yīng)用分形理論來(lái)定量描述土壤形態(tài)和性質(zhì)已成為土壤科學(xué)研究的重要方...
近日,第十八屆藥機(jī)展(PMEC2025)在上海新國(guó)際博覽中心落下帷幕,馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會(huì)所展示的顆粒、粉體等先進(jìn)表征技術(shù)備受業(yè)內(nèi)人士關(guān)注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)客戶沒(méi)有辦法到現(xiàn)場(chǎng)參觀交流,且由于展位面積有限,更多產(chǎn)品和方案沒(méi)有辦法現(xiàn)場(chǎng)展示。為了讓大家更多地了解馬爾文帕納科和麥克應(yīng)用于醫(yī)藥行業(yè)的產(chǎn)品和解決方案,本文將整理摘錄完整的醫(yī)藥行業(yè)方案,并在文中附上馬爾文帕納科和麥克默瑞提克制藥行業(yè)產(chǎn)品手冊(cè),您可點(diǎn)擊下載了解詳情。儀器設(shè)備和檢測(cè)技術(shù)貫穿醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)鏈的研發(fā)、生...
針對(duì)半導(dǎo)體行業(yè),馬爾文帕納科最新推出的高速晶向定位系列解決方案,可實(shí)現(xiàn)從全自動(dòng)的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查,覆蓋從晶棒-鑄錠-切片和晶圓制程的全部應(yīng)用。利用XRD分析技術(shù)在晶圓生產(chǎn)的全部流程中,提供簡(jiǎn)單、快速、高精度的晶體定向測(cè)量,大大提高產(chǎn)品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能夠在不影響精度的情況下高速完成測(cè)量,Omega/ThetaXRD系列在晶格測(cè)定方面可提供超高的測(cè)量精度和速度,WaferXRD系列利用晶圓端控制的高級(jí)分揀選項(xiàng)提供高通量篩選,XRD-OE...