納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)測量。該儀器利用激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，捕捉納米顆粒在液體中的布朗運動軌跡。通過分析顆粒的擴散系數(shù)，結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，計算其流體力學(xué)直徑，精度可達4nm。同時，支持熒光檢測功能，可識別熒光標(biāo)記顆粒，實現(xiàn)多參數(shù)同步分析。以下是納米顆粒跟蹤分析儀其主要結(jié)構(gòu)特點：一、高精度光學(xué)系統(tǒng)：實現(xiàn)單顆?？梢暬?..

激光粒度分析儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒測量儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。其核心原理是：當(dāng)激光束照射到顆粒時，會發(fā)生衍射和散射現(xiàn)象，散射光的強度與角度分布與顆粒大小密切相關(guān)。通過測量不同角度的散射光信號，并利用Mie散射理論或Furanhofer衍射理論進行計算，可精確推導(dǎo)出顆粒的粒徑分布。在應(yīng)用領(lǐng)域方面，激光粒度分析儀發(fā)揮著重要作用。在材料科學(xué)中，它用于分析金屬粉末、陶瓷原料及納米顆粒的粒度分布，優(yōu)化材料性能；在工業(yè)生產(chǎn)中，它助力涂料、化工及水泥...

X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線激發(fā)物質(zhì)產(chǎn)生特征熒光的分析儀器，通過測量熒光波長和強度實現(xiàn)元素的定性與定量分析。其核心原理是：高能X射線轟擊樣品時，原子內(nèi)層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補時釋放特征X射線熒光，不同元素的熒光波長具有唯1性，構(gòu)成元素分析的“指紋”特征。該儀器具有非破壞性、快速多元素分析的優(yōu)勢。檢測范圍覆蓋原子序數(shù)11（鈉）至92（鈾）的元素，含量檢測下限達ppb級，可分析固體、粉末、液體及薄膜樣品。例如，在環(huán)境監(jiān)測中，可快速檢測土壤、水體中的重金...

納米粒度電位儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑、Zeta電位等參數(shù)的分析儀器，在化學(xué)、材料科學(xué)、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。該儀器主要基于動態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態(tài)光散射（SLS）技術(shù)工作。動態(tài)光散射通過檢測顆粒布朗運動速度計算粒徑分布；電泳光散射測量顆粒在外加電場中的遷移率，轉(zhuǎn)化為Zeta電位值；靜態(tài)光散射則利用散射光強直接測定高分子物質(zhì)的絕對分子量及第二維利系數(shù)。其粒徑檢測范圍通常覆蓋0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測，并具備自動化...

X射線熒光光譜儀是一種用于快速、無損分析物質(zhì)元素組成的先進儀器，在眾多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。其工作原理基于X射線熒光現(xiàn)象。當(dāng)高能X射線照射樣品時，樣品中的原子內(nèi)層電子被激發(fā)，產(chǎn)生空穴。外層電子躍遷填補空穴，同時釋放出具有特定能量的特征X射線熒光。通過探測和分析這些熒光的能量和強度，就能確定樣品中存在的元素種類及其含量。XRF具有諸多顯著優(yōu)勢。它屬于非破壞性分析技術(shù)，無需對樣品進行復(fù)雜的預(yù)處理，能保持樣品的原始狀態(tài)，對于珍貴文物、考古樣品等的分析尤為適用。分析速度快，可在短時間內(nèi)...