本文摘要先分享一個(gè)好消息，從2024年10月發(fā)布的HighScore5.3版本開始，腳本功能將擴(kuò)展到無Plus功能的HIghScore軟件版本，因此從本篇文章開始本系列更名為《HighScore腳本入門》。在本系列的第一篇文章中介紹了HighScorePlus軟件的腳本支持功能，并展開說明了腳本語言的程序結(jié)構(gòu)和數(shù)據(jù)類型及常規(guī)的賦值和運(yùn)算語句。本篇我們來說一說腳本程序代碼中的流程控制。流程控制條件語句程序執(zhí)行中，有時(shí)候需要判斷某個(gè)條件是否滿足，根據(jù)判斷結(jié)果實(shí)施不同的操作，這就需...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于光散射原理的先進(jìn)技術(shù)，用于實(shí)時(shí)測量液體中納米顆粒（粒徑范圍通常為10-2000nm）的濃度和粒徑分布。其核心優(yōu)勢在于無需假設(shè)顆粒形狀或密度，可直接通過顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)軌跡進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，適用于生物分子（如外泌體、病毒）、藥物載體、納米材料等復(fù)雜體系的表征。納米顆粒跟蹤分析儀的日常保養(yǎng)：1、清潔外部使用柔軟、干凈的布輕輕擦拭儀器的外殼，去除灰塵和污漬。避免使用含有腐蝕性化學(xué)物質(zhì)的清潔劑，以免損壞儀器表面涂層。對于頑固污漬，可以使用少量溫和的中性清潔劑，但...

激光噴霧粒度儀是一種重要的粒度分析儀器，其基于激光散射原理進(jìn)行工作。當(dāng)一束激光照射到噴霧中的顆粒時(shí)，顆粒會(huì)對激光產(chǎn)生散射。散射光的強(qiáng)度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強(qiáng)度，可以得到顆粒的粒度分布信息。這一原理依賴于米氏散射理論，即光線通過含有顆粒的不均勻介質(zhì)時(shí)，與顆粒產(chǎn)生相互作用，發(fā)生吸收、反射、折射、透射和衍射等現(xiàn)象，使得光線偏離原先的光路。激光噴霧粒度儀其核心組成部分包括以下模塊：1、光學(xué)系統(tǒng)激光光源通常采用半導(dǎo)體激光器（如波長635...

本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進(jìn)行預(yù)制備樣品電位測量時(shí)，樣品中產(chǎn)生的氣泡會(huì)顯著影響測量結(jié)果。本文將通過實(shí)際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用，來保障預(yù)制備樣品電位結(jié)果的數(shù)據(jù)質(zhì)量和一致性。01丨前言提到氣泡，可能會(huì)聯(lián)想到游戲和有趣，但在科學(xué)測量領(lǐng)域，它們往往帶來更多的是辛苦和麻煩。使用納米粒度電位儀進(jìn)行電位測量，通常情況下，當(dāng)樣品制備好后立即進(jìn)行電位測量時(shí)，氣泡很少會(huì)有影響。然而，當(dāng)我們分析大批量樣品，需要高通量的方法，使用一些自動(dòng)進(jìn)...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀的技術(shù)特點(diǎn)主...