X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀的技術(shù)特點主...

粉末衍射儀，特別是粉末X射線衍射儀，是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器，在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸姺?。這些被聚焦的衍射線所對應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測角儀掃描過程中，聚焦圓的半徑會不斷改變，但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...

激光粒度分布儀是一種用于測量和分析顆粒大小分布的精密儀器，主要利用激光技術(shù)進行粒度分析。其核心原理是激光散射技術(shù)。當激光束照射到顆粒樣品時，顆粒會對激光產(chǎn)生散射現(xiàn)象。散射光的強度、角度和偏振狀態(tài)與顆粒的大小、形狀、折射率等參數(shù)密切相關(guān)。根據(jù)米氏散射理論（MieTheory），當顆粒的直徑與激光波長相近或更大時，散射光的強度與顆粒的直徑呈一定的函數(shù)關(guān)系。因此，通過測量散射光的分布，可以計算出顆粒的粒度分布。激光粒度分布儀主要由以下幾個結(jié)構(gòu)組成：1、光學(xué)系統(tǒng)激光器：通常為半導(dǎo)體激...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀在安裝前期的...

激光粒度分布儀是一種用于測量和分析顆粒大小分布的精密儀器，主要利用激光技術(shù)進行粒度分析。其核心原理是激光散射技術(shù)。當激光束照射到顆粒樣品時，顆粒會對激光產(chǎn)生散射現(xiàn)象。散射光的強度、角度和偏振狀態(tài)與顆粒的大小、形狀、折射率等參數(shù)密切相關(guān)。根據(jù)米氏散射理論（MieTheory），當顆粒的直徑與激光波長相近或更大時，散射光的強度與顆粒的直徑呈一定的函數(shù)關(guān)系。因此，通過測量散射光的分布，可以計算出顆粒的粒度分布。激光粒度分布儀的安裝是一個精細且規(guī)范的過程，需要確保儀器的準確性、穩(wěn)定性...